CMP/精密研磨/各種清浄度測定/圧力分布測定 

最小可測粒径0.1µm パーティクルカウンター

AeroTrak™9110

定格流量:28.30L/min(1CF/min)

粒径区分:0.1/0.15/0.2/0.25/0.3/0.5/1/5µmを同時測定

半導体前工程等で求められる超清浄区域の清浄度測定・清浄度監視に最適。

日本語タッチパネルと軽量ボディ、内臓リチウムイオンバッテリーにより誰でもどこでも測定可能です。

ISO14644Class1からClass5相当のスーパークリーン区域の測定に適します。

仕様 

型式 Model 9110
最小可測粒径

0.1µm

粒径区分

0.1/0.15/0.2/0.25/0.3/0.5/1.0/5.0µm 

試料吸引量 28.3 L/min

最大可測粒子濃度

※同時通過損失10%以下

100,000個/28.3L
偽計数 5分あたり1個以下(JIS B9921対応)
光源 HeNeレーザー
光学方式 側方光散乱方式
最大サンプリングチューブ長 8m
画面

QVGA 5.7インチカラータッチディスプレイ

(Microsoft Windows CE)

寸法(W×D×H)mm 206×522×236
重量 12.7㎏(バッテリー4個装着時)、11.1kg(バッテリー無し)
電源電圧/周波数 AC100 ~240V 50-60Hz 
バッテリー 脱着可能 リチウムイオンバッテリー
バッテリー駆動時間 連続使用にて約4時間(バッテリー4個装着時)
使用環境 温度10~35℃ 湿度20~95%(結露無き事)
排気口フィルタリング HEPAフィルタ内蔵
通信インターフェース Ethernet(ネットワーク)USB(データダウンロード)
データ保存 10,000回
プリンタ 感熱プリンタ内蔵
測定時間 1秒~99時間
測定サイクル 1~9999回または連続測定
アラーム設定 各粒径ごとに個数入力(音量:最大85㏈)
測定場所登録 最大999件 (16文字以内)
筐体材質 ステンレス

校正期間:標準2週間

●購入を検討されているお客様へデモ機貸出・操作説明対応

●バリデーション(CSV,IQ/OQ)対応

●校正周期:1年に1回以上を推奨

●校正期間:標準2週間(事前予約で納期短縮も相談可)

●校正・修理・メンテナンス:奈良サービスセンター 東京サービスセンター