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気中パーティクルカウンター
半導体・医薬品製造環境の清浄度管理に 粒径10nm~10µm対応
ハンディータイプから多点監視まで幅広く対応
安心の日本語タッチパネル。高圧エア(CDA)にも減圧器で対応
国内メンテナンス35年以上の安心実績 ※日本全国へ対応
校正・メンテナンス・修理について
Aero Trak™ シリーズ
※他社製品は応相談
製薬工場・医薬品製造工場向けラインナップ
粒径0.5µm・5µm対応モデル
小流量2.83L/min(0.1CFM)
ハンディタイプ
大流量28.3L・50L・100L/min
ポータブルタイプ
多点清浄度監視システム
常時監視方式/流路切替方式
リアルタイム浮遊菌カウンター
※検出された生菌の同定可能
電子産業・食品・病院向けラインナップ
0.3~10µm対応可能
ハンディタイプ
0.1µm~10µm対応可能
ポータブルタイプ
多点清浄度監視システム
常時監視方式/流路切替方式
凝集粒子カウンター(CPC)
※0.1CFMの流量で10nm感度
ポータブルパーティクルカウンタ操作説明動画
無菌操作区域の微粒子清浄度管理に係る日米欧三局指針について
医薬品工場、とりわけ無菌操作区域にて遵守が求められる微粒子清浄度管理の日欧米三局指針を解説しします。
日欧米三局指針
無菌医薬品製造区域の空気清浄度及び環境部生物の許容基準について
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研磨パッド一覧
ウレタン研磨パッドMH-Nパッド
研磨スラリー
ワ―ク保持材/保護材
ワ―ク保持材/保護材のコピー
ダイヤモンドコンディショナー
インテリマーテープ/WAX代替
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ダイヤモンドスラリー
多結晶ダイヤモンドパウダ―
単結晶ダイヤモンドパウダ―
ダイヤスラリー/GAF/ジェル
パーティクルカウンター
ハンディタイプパーティクルカウンター
大流量ポータブルタイプパーティクルカウンター
大流量ポータブルタイプパーティクルカウンターのコピー 1
常時多点監視用パーティクルカウンター
電子産業・食品・病院様向けパーティクルカウンタ
最小可測粒径0.1µm パーティクルカウンタ
最小可測粒径0.3µm パーティクルカウンター
最小可測粒径0.3µm パーティクルカウンターのコピー 3
最小可測粒径0.5µm パーティクルカウンターのコピー 3
最小可測粒径0.5µm パーティクルカウンターのコピー 4
ポータブルタイプ(100.0L)パーティクルカウンター
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温度圧力分布測定システム テムリア™+
温度圧力分布測定システム テムリア™+のコピー 1
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除菌型洗浄剤ジョキンメイト
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SQUADROダイヤモンド研削パッド(レジンボンドタイプ)
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ULTRA-SOL_STD0.5m20MCH ダイヤモンド×コロイダルシリカスラリー
PLATOダイヤモンド研削パッド( メタルボンドタイプ)
IRINO(銅/レジン複合パッド)
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研磨加工別【半導体デバイスCMP】
研磨加工別【シリコンウェーハ】
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スポアクレンズ
小型庫内除染装置(FOGACT)
QTエタノール
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圧力分布測定システムのコピー 1